总结我的验证思路:“开门红” Test Case

本文转自公众号“数字芯片实验室”,作者:夏晶 。谢谢

根据规格分解FeatureList,根据FeatureList对应TC,然后再一条一条仿真TC反过来映射FeatureList和规格。没错,这是最通常的做法,可惜我不这样做。

 

世间有80:20原则,验证也是,80%的问题都可以通过20%的测试和时间去发现和解决,而剩余20%的问题需要80%的测试和时间去解决。

 

所以,按照我的思路,会有几个最初级的TC,可以用来测试最基本的通路能否冒烟,这几条TC,可以划归到TCList中,也可以不划归。然后,一定有一条开门的TC,这是一条复杂的Directed TC,一条可以覆盖70%的Feature的TC。

 

这条TC并不负责任何Corner、异常覆盖,不做任何特殊的思考,一切都是直接对Feature的连续描述(也可以是若干条TC的直接串联),因此即使有些许问题,修改的难度也比较低。

 

这条TC能够帮助设计人员定位超过70%的问题,如果设计人员足够聪明,这个TC可以解决90%的问题。

 

这条TC的寿命可能将超过一个月,这一个月足够设计人员在其中沉沉浮浮,使得代码达到95%的交付情况。而验证人员在这一个月中,有足够的时间完善Corner的TC、Random的TC和环境,然后集中精力完成剩下10%问题的解决。

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